VarManによるメモリの統計的キャラクタライゼーション・ソリューション

VarManには、Variability eXplorer、high-sigma Yield Estimation、high-sigma Performance Limit、eXtreme Memory Analysisを含むツールのパッケージソフトが含まれます。これらのユニークなツールは、メモリのキャラクタライゼーションと品質保証に必要なシミュレーション回数を大幅に減らしながらも、高い精度を維持することで、ばらつきを加味した設計およびキャラクタライゼーションを可能にします。

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先端プロセスと低電力テクノロジーのためのばらつき考慮設計

シルバコのVariation Managerは革新的なモンテカルロ技術により、アナログセルやAMS/RF ICを高速に検証できます。メモリビットセルや論理標準セルのように多くの繰り返し要素を持つ設計に対してもロバストな高シグマ解析を可能とします。

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SiCおよびSiパワー・デバイスのTCADからSPICEに至るシミュレーション

このウェビナーでは、パワー・デバイスの設計、シミュレーションおよび性能最適化をTCADとSPICEシミュレーションにより行う手法について取り上げます。

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Validation of CLEVER Interconnect Parasitics with 0.18 µm Process Measurements Benoit Froment and Herve Jaouen – SGS-Thomson Microelectronics

CLEVER can perform accurate field solver extractions of resistance and capacitance from 3D structures generated from realistic process simulation. Comparison of CLEVER results with measurements made by SGS-Thomson Microelectronics were done to validate the simulator.

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