2018년 9월 21일 | 2:00am-2:30am (한국 시각) VarMan은 Variability eXplorer, 하이-시그마 Yield Estimation, 하이-시그마 Performance Limit, eXtreme Memory Analysis 등을 포함합니다. 높은 정확성을 유지하면서도 메모리 특성화와 품질 보증에 필요한 시뮬레이션 횟수를 크게 줄여, 변동성이 존재하는 상태에서 설계와 특성화를 구현합니다.
2018년 7월 20일 | 2:00am-2:30am (한국 시각) GaN HEMT 소자에 대한 모델 파라미터 추출 방법을 제시합니다. Verilog-A 및 시뮬레이터 내장 모델에 대한 논의를 통해, GaN HEMT 소자에 대한 현재의 SPICE 컴팩트 모델을 검토합니다.
VarMan에 의한 스탠더드 셀 통계 특성화 각각의 새로운 반도체 공정 노드에서, 전체적 혹은 부분적 공정 변동은 스탠더드 셀 라이브러리의 성능 결정에 점점 중요한 영향을 끼치고 있습니다. 공급 전압 및 온도…
일시: 2016년 11월 11일 | 3:00am-3:30am (한국 시각) VarMan은 아날로그 설계자를 위한 구체적인 통계 분석을 포함합니다. 아날로그 셀 또는 AMS/RF IC를 신속하게 분석할 수 있도록, 혁신적인 몬테 카를로 부스터를 내장하였습니다. 몬테 카를로보다 빠른 VarMan은 주어진 시간 내에서 변동성 문제를 해결할 수 있도록 합니다.
일시: 2016년 4월 1일 | 2:00am-2:30am (한국 시각) 실바코의 VarMan은 아날로그 셀, AMS/RF IC의 신속한 검사를 위해 혁신적인 몬테 카를로 기법을 제공합니다. 메모리 비트 셀, 로직 스탠더드 셀처럼 복제된 설계 요소에 대해 강력한 하이 시그마 조사를 수행할 수 있습니다. VarMan의 혁신적인 샘플링 기법은 고속, 저비용으로 변동에 대한 문제를 해결하는 데 도움이 됩니다.
2015년 12월 17일 | 3:00am-3:30am (한국 시각) 태양 전지 및 태양 전지 패널의 TCAD-to-SPICE 시뮬레이션 플로우와 이에 관련된 방법론에 대해 알아봅니다.
2015년 3월 29일 | 2:00am-2:30am (한국 시각) 업계 표준 HiSIM_HV 2 모델을 사용하여, 고전압 소자를 위한 모델 파라미터 추출에 대해 소개합니다.
일시: 2014년 12월 7일 | 3:00am-3:30am (한국 시각) TCAD와 SPICE 시뮬레이션으로 전력 소자의 성능을 설계, 시뮬레이션, 최적화하는 방법에 대해 논의합니다.
CLEVER can perform accurate field solver extractions of resistance and capacitance from 3D structures generated from realistic process simulation. Comparison of CLEVER results with measurements made by SGS-Thomson Microelectronics were done to validate the simulator.